產(chǎn)品中心

Product Center

MCU老化設(shè)備

使用領(lǐng)域：
應(yīng)用于車載MCU老化測試；

主要功能：
1.主要用于對車載服務(wù)器成品或半成品進(jìn)行老化測試；
2.測試治具可以實(shí)現(xiàn)快換；
3.測試環(huán)境采用風(fēng)扇控溫,控溫精度±5°；
4.電氣接口自動對插；

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規(guī)格：
1.設(shè)備外型尺寸：5300*1000*1650mm；
2.設(shè)備通過五個單獨(dú)機(jī)架拼接組成，每套可放置8個測試模組，共有40個測試穴位；

咨詢熱線：0755-85263900

地址：深圳市龍華新區(qū)觀湖街道五和大道308號僑安科技工業(yè)園C棟